|
| Обозначение: | ГОСТ 26222-86 |
| | Статус: | действующий |
| | Название рус.: | Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые. Методы измерения параметров |
|
| Название англ.: | Ionizing-radiation semiconductor detectors. Methods of parameters measurement |
|
| Дата актуализации текста: | 27.10.2010 |
| | Дата актуализации описания: | 27.10.2010 |
|
| Дата введения в действие: | 01.07.1987 |
|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые детекторы ионизирующих излучений (ППД) и устанавливает методы измерения их электрических и радиометрических параметров:
темнового тока;
емкости (гармонический и зарядовый методы);
энергетического разрешения;
энергетического эквивалента шума (метод непосредственного измерения и спектрометрический метод);
энергетического эквивалента толщины метрвого слоя;
дискретной чувствительности регистрации;
средней частоты следования фоновых импульсов;
радиационной помехоустойчивости;
аналоговой чувствительности регистарции (статический и импульсный методы);
времени нарастания сигнала;
длительсности фронта нарастания сигнала.
Стандарт не распространяется на ППД, изготавливаемые по ГОСТ 18398-81, а также на запоминающие ППД |
|
| Взамен: | ГОСТ 17619-72 ГОСТ 26222-84 |
|
