|
| Обозначение: | ГОСТ 26239.5-84 |
| | Статус: | действующий |
| | Название рус.: | Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей |
|
| Название англ.: | Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination |
|
| Дата актуализации текста: | 27.10.2010 |
| | Дата актуализации описания: | 27.10.2010 |
|
| Дата введения в действие: | 01.01.1986 |
|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01 |
|
| Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 26.06.1990) «Срок действия продлен»
|
|
