|
| Обозначение: | ГОСТ Р 8.630-2007 |
| | Статус: | действующий |
| | Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки |
|
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe measuring microscopes. Methods for verification |
|
| Дата актуализации текста: | 27.10.2010 |
| | Дата актуализации описания: | 27.10.2010 |
|
| Дата введения в действие: | 01.02.2008 |
|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629.
Межповерочный интервал микроскопа - один год |
|
| Список изменений: | №1 от 01.04.2011 (рег. 12.11.2010) «Поправка»
|
|
